電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀/電偶腐蝕測(cè)試儀 型號(hào):DP-CST-500
DP-CST-500系列電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀由品質(zhì)CMOS和BiFET®集成電路組成，用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電偶腐蝕或者電化學(xué)噪聲信號(hào)，儀器可以通過基于Windows的ENtools軟件行設(shè)置（由串口控制），也可以直接通過面板觸摸鍵盤操作。通過ENtools軟件用戶可計(jì)算電偶電流密度，電偶腐蝕速率、噪聲電阻Rn，以及點(diǎn)蝕數(shù)等。ENtools軟件還具有較強(qiáng)的繪圖能，支持圖形矢量方式，可以直接拷貝到Word文檔中，便于文檔建立和資料保存。
儀器作原理
DP-CST-500系列采用業(yè)單片機(jī)控制芯片，并采用斬波穩(wěn)零放大器Max7650作為前置放大電路，其溫漂小于1mV/℃，時(shí)漂小于10mV/Month。采用基于零阻電流測(cè)量原理來監(jiān)測(cè)電化學(xué)噪聲和電偶腐蝕電流。內(nèi)置有雙通道24bit度AD轉(zhuǎn)換器，采樣速率為1000Hz，電流測(cè)量具有自動(dòng)量程能，內(nèi)置低通濾波器，可以有效消除頻噪聲入測(cè)量單元；通訊分采用RS232/485電路，電路采用光隔設(shè)計(jì)，避免地回路對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，保障儀器在業(yè)環(huán)境中的正常使用。
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DP-CST-500 |
DP-CST-550 |
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數(shù)據(jù)分辨率 |
?Σ-Δ AD 24bit |
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數(shù)據(jù)采集速率 |
0.01～1000Hz，雙通道同步 |
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輸入阻抗 |
1×1012W||20pF |
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大測(cè)量電位范圍 |
±5V |
±10V |
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電流測(cè)量范圍 |
±20mA |
±200mA |
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電流量程 |
20mA～2nA，共8檔 |
200mA～20 nA，共8檔 |
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電位分辨率 |
1μV |
10μV |
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小電流分辨率 |
1pA |
10pA |
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通訊協(xié)議 |
RS232/485(可選)，Baud Rate：9600～115200bps |
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電源 |
交流220V/50Hz±10% |
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耗 |
<10 W |
<50 W |
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體積 |
36厘米(寬)×30厘米(深)×14厘米() |
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重量 |
<3Kg |
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作環(huán)境條件 |
溫度-10℃～40℃，相對(duì)濕度75%以下?？諝庵袩o強(qiáng)烈腐蝕性氣體。 |
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