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產(chǎn)品報(bào)價(jià)： ￥200000元

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產(chǎn)品熱度：加載中

品　　牌：美國(guó)SD

產(chǎn)品型號(hào)：型號(hào):4511L?4511M?4511M6

適用范圍：高教

所在地區(qū)：

　　測(cè)量范圍:25 至250Hz, 正弦曲線

　　測(cè)量精度:40 至250Hz

　　電源:100,120,220,240VAC+/-10%at 50 or 60 Hz

　　用途:有效檢測(cè)出這些多余物體,提高產(chǎn)品可靠性

　　加工定制:是

　　外形尺寸:22mm~150mmmm

　　重量:20kg

　　頻率范圍:25 至250Hz, 正弦曲線

　　頻率分辨率:1Hz

　　時(shí)間:每個(gè)程序0.1 至25.5 秒

　　時(shí)間程序分辨率:0.1 秒

　　振幅:0.1 至25.50’G’峰值,4 位數(shù)顯

　　美國(guó)顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀

　　美國(guó)SD公司官方授權(quán)。15年專(zhuān)業(yè)粒子噪聲檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，傳動(dòng)科學(xué)技術(shù)有限公司竭誠(chéng)為您提供專(zhuān)業(yè)優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。包括顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀PIND、及其附件水溶膠、膠片的銷(xiāo)售，維修（聲耦合劑維護(hù)及試件夾具設(shè)計(jì)，實(shí)驗(yàn)方案指導(dǎo)）。

　　顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀

　　SD顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來(lái)測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒. 

　　選型說(shuō)明

　　每種型號(hào)的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀都包括:控制器,振動(dòng)臺(tái),傳感器, 靈敏度測(cè)試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號(hào)選擇主要根據(jù)被測(cè)件的重量和外型尺寸而定,我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230振動(dòng)臺(tái)可測(cè)負(fù)載重量,全頻率范圍內(nèi)為400克,換能器臺(tái)面直徑為22mm~150mm,換能器因在其中心區(qū)域50%面積處?kù)`敏度高,故實(shí)際臺(tái)面選擇時(shí)換能器面積要略大于被測(cè)件大的扁平面面積.產(chǎn)品型號(hào)包括：4511L（50mm臺(tái)面）4511M（100mm臺(tái)面）4511M6（150mm臺(tái)面）